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            集成電路會遭到鹽霧的危害讓鹽霧試驗機解決

            作者:鹽霧試驗機    來源:林頻環境試驗解決方案    發布時間:2022-11-01 11:27    瀏覽量:
              本文簡要介紹了鹽霧在自然界中的組成及其對電子產品的影響,并比較了電子產品、部件和材料的鹽霧試驗參數。根據鹽霧試驗機的應用范圍,通過對部件、材料和整機的逐步檢查,簡要介紹了提高和評價電子產品長期耐鹽霧性能的研究方法。
            集成電路會遭到鹽霧的危害讓鹽霧試驗機解決
              在大氣中,由含鹽的小液滴組成的擴散系統是指鹽霧。據相關統計,約50%的各種飛機現場故障是由環境引起的。其中,溫度占40%,振動占27%,濕熱占19%,沙塵占5%,鹽霧占4%。可以看出,鹽霧在近20個環境因素中排名第五,是一個不容忽視的破壞性因素。
             
              近年來,科學家們開始使用鹽霧試驗機來研究鹽霧對集成電路、雷達天線罩和其他產品的影響。結果表明,由于電化學反應,集成電路會產生腐蝕性物質,破壞電路的表面和性能。同時,它與材料和密封性有一定的關系。當包裝具有良好的氣密性時,只有電線受到塑料包裝和玻璃包裝腐蝕的影響,而陶瓷包裝受到很大的腐蝕。鹽霧顯著增加了天線罩對雷達波的反射。形成的閃光花瓣會引起虛擬報警,減少蓋壁的傳輸,形成雷達盲區。
             
              目前,根據不同的應用范圍,鹽霧試驗機可以進行各種鹽霧試驗方法。研究數據表明,每個標準鹽霧的參數范圍相同,但由于應用范圍不同,測試方法也不同。有連續噴霧、鹽霧和干燥交替、鹽霧和濕熱交替等。到目前為止,我們已經了解了鹽霧環境對集成電路的危害。設備已成為主要行業常用的鹽霧檢測儀器。

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